光下最大葉綠素熒光Fm'是準確計算一系列熒光參數的基礎，但為什么常常被低估？...
準確測量光下最大熒光產額Fm'是植物葉片熒光參數測量的重點和難點。Fm'的測量不準確將導致一系列相關熒光參數的錯誤計算，如非光化學淬滅系數NPQ和葉肉導度gm等。
|
許多研究表明Fm'會隨"飽和閃光"強度的增加而增大。PSII具有快速周轉能力，傳統(tǒng)"飽和閃光"技術無法將PSII反應中心受體側完全還原，因此容易造成對于光下最大熒光產額Fm'的低估。解決方案是首先測量多個不同"飽和閃光"梯度下的表觀AFm'， 進而建立"飽和閃光"強度的倒數與它的線性方程關系，求算當"飽和閃光"趨向于無窮大時對應的熒光產額Fm'。這種方法非常耗時，因此限制了其在實際測量中的應用。LI-COR公司研發(fā)出一項新技術Multiphase FlashTM，可以在一次短暫閃光過程中（～1s）快速測量多個閃光強度以及與之相對應的熒光產額AFm'，通過線性擬合準確推算EFm'。 |
 |
實驗結果表明：（1）在不同"飽和閃光"強度下，通過Multiphase FlashTM方法推算得到的EFm'差異不顯著且總是高于傳統(tǒng)方法測量所得結果。通過EFm'計算得到的ΦPSII能比傳統(tǒng)v技術測量結果高15-20%（下表）；（2）將EFm'計算得到的電子傳遞速率J與凈光合速率AG建立線性方程，其斜率為4.7±0.2，即大約4.7個電子固定1個CO2，與理論值相符。
 |
 |
在運用傳統(tǒng)"飽和閃光"技術測量時需要假設過程速率常數（如kF, kD等）維持不變且沒有觸發(fā)副反應，而很多研究表明上述假設在高強度"飽和閃光"下不成立。Multiphase FlashTM技術可以在低強度"飽和閃光"下推算EFm'，最大程度上減少了這些副反應的發(fā)生，因此非常適用于那些可能會造成光損傷植物的熒光測定。
參考文獻
Loriaux, S. D., T. J. Avenson, J. M. Welles, D. K. McDermitt, R. D. Eckles,B. Riensche and B. Genty. 2013. Closing in on maximum yield of chlorophyll fluorescence using a single multiphase flash of sub-saturating intensity. Plant, Cell& Environment. doi: 10.1111/pce.12115