植物生理學(xué)專家Jeff Ritter解讀葉面積指數(shù)的實(shí)際應(yīng)用，以及如何將這些應(yīng)用結(jié)合到生產(chǎn)實(shí)踐中去。
· 研討會詳情 ·
葉面積指數(shù)（LAI）在很多方面有著廣泛的應(yīng)用，包括：土地管理、生態(tài)學(xué)以及與GPP（總初級生產(chǎn)力）相關(guān)的許多方面。然而LAI的測量方法眾多，如何選擇最適宜的，或者最適合的方法就成為一個需要考慮的問題。選擇中，如何權(quán)衡準(zhǔn)確性和工作強(qiáng)度呢？來加入2024年2月28日的線上研討會，一探究竟吧。
這次研討會將討論如下話題：
什么是葉面積指數(shù)LAI
為什么要測量LAI
直接取樣法，包括落葉收集法
基于地面的間接方法，包括半球成像法
透射與反射對比法
衛(wèi)星遙感方法
方法的選擇，如何權(quán)衡準(zhǔn)確性與工作強(qiáng)度
· 主講嘉賓 ·
Jeff Ritter是METER Group的產(chǎn)品經(jīng)理，負(fù)責(zé)植物、冠層及大氣監(jiān)測產(chǎn)品。他曾獲華盛頓州立大學(xué)植物生理學(xué)碩士學(xué)位，研究方向是葉片表面氣體交換，以及植物生物化學(xué)對全球碳循環(huán)測量的影響。Jeff Ritter還曾在華盛頓州立大學(xué)作物和土壤科學(xué)系擔(dān)任研究教職。
· 如何參加 ·
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